M.Sc. Johannes Geier
Technische Universität München
Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung (Prof. Schlichtmann)
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Arcisstr. 21
80333 München
Publications
Exploring the RISC-V Vector Extension for the Classic McEliece Post-Quantum Cryptosystem
In: 2021 22nd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
April 2021